Для того чтобы получить целостное представление над различными методами изготовления для перовскита пленок, важно сочетать структурные, электронные и характеристики устройства. Сканирующая электронная микроскопия (SEM) дает хорошее представление о морфологии. Таким образом, все пленки, полученные разными методами изготовления были исследованы. Представитель подмножество перовскита тонких пленок показано на рисунке 1, который визуализирует значительное влияние способа получения на морфологию пленки.
В идеале, гладкая и пин-отверстие бесплатно фильм желательно для устройств. Как можно видеть, это так для пленок осажденных в вакууме (F, G), дип с покрытием из них (д, е), а также пленок , полученных из совместного раствора с добавкой NH 4 Cl и толуола атмосферы (а1 к a5) с изменяющимся отношением R от PbI 2 к MAI от 0,6 до 1,4. В отличие от этого пленки witho УТ добавка (Н), а также окунанием покрытием (д, е) и те, уронить напыление (б, в) показывают большие пустоты, игольчатой структуры или большую шероховатость поверхности, и, следовательно, не являются полезными для приборных применений.

Рисунок 1: СЭМ изображения перовскита пленок , полученных различными методами обработки. (A1 - a5) Co-раствор с добавкой и толуола атмосфере с различным соотношением PbI 2 к MAI (R), (б) Перепад покрытия с 40 сек времени загрузки, (с) понижаться покрытие с 120 с временем загрузки, ( d) окунанием (10 сек время загрузки), (е) окунанием (3,600 сек время загрузки), (е) совместное испарение, (г) последовательное испарение, (з) совместное решение без добавок. Масштабные полоски указывают на длину 1 мкм.tp_upload / 55084 / 55084fig1large.jpg "целевых =" _blank "> Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.
И, наконец, на рисунке 1 a1-a5 показывают вариации смешивания отношения г PbI 2 к MAI от 0,6 до 1,4 с использованием препарата сорастворения с добавкой и толуола атмосферы. Вариации покрытия поверхности и размера кристаллов, показывают, что здесь появляются и разные морфологию пленки.
Хотя SEM является хорошим инструментом для визуализации морфологии и охват тонких пленок и, чтобы получить представление о шероховатости пленки, однако не структурная информация не дается.
Поэтому для того, чтобы далее охарактеризовать Перовскитоподобная фильмы, использовали рентгеновской дифракции (XRD). С помощью данной методики с использованием Cu K α анода (λ = 1,54056 Å) , кристаллические фазы в интервале 2 & thetas ; в возрасте от 10 6; и 40 ° (размер шага 0.00836 °) контролировались и охарактеризованы. Во многих публикациях ДРЛ используется для определения качества перовскита пленок.
На рисунке 2 показаны результаты измерений Рентгенограмма подмножества выборок , имеющих шесть различных соотношений смешении PbI 2 к МСИ, и , следовательно , соответствует изображениям SEM на рисунке 1A1-а5. Кроме того, спектр чистого PBI 2 показан. Исходя из этого, влияние стехиометрии в растворе предшественника по качеству перовскита слоев, а такие , как появление различных фаз, то есть включения дополнительных фаз PbI 2 и MAI, исследуется. Спектры показывают тетрагональную кристаллическую структуру, а отражения проиндексированы с соответствующими кристаллическими плоскостями. Удивительно, но не было обнаружено каких - либо дополнительных фаз МАИ или PbI 2 в отходящих стехиометрического пленок.
нт ">
Рисунок 2: Рентгенограмма чистого PbI 2, а также со
структурой перовскита образцы ,
полученные методом совместного решения (с NH 4 Cl и толуола атмосферы) ,
используя различные молярные соотношения предшественников (коэффициенты ,
приведенные цифры справа). Для сопоставимости кривые нормированы на пик при 14.11 ° и смещается по вертикали. Печатается с разрешения автора из ссылки
16. Copyright 2015 Wiley-VCH.
Пожалуйста ,
нажмите здесь ,
чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры. Как ДРЛ не предоставили информацию о составе пленки, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) используется, который способен непосредственно измерить пленки стехиометрии. Для этого измерения α источник возбуждения Mg K (hν = 1252,6 эВ) С энергией пропускания 10 эВ (Энергетическое разрешение = 800 мэВ) используется. Относительные факторы чувствительности (RSF), должны быть приняты во внимание для каждого в отдельности измеряемого элемента. Таким образом , важно для калибровки RSFs для нашей измерительной системы (Mg K источника α, угол между источником рентгеновского излучения и анализатора 50,0 °). Мы использовали ряд небольших молекул для калибровки пика йода с трис- (4-iodphenyl) амин (C 18 H 12 N 3 I), и откалиброван Pb через PbI 2. Углерод используется в качестве ссылки, как таковой с RSF (C1s) = 1, поэтому, коэффициенты RSF для отдельных элементов; RSF (N1s) = 1,8, RSF (i3D 5/2) = 32,8 и RSF (Pb4f 7/2) = 16,5.
На рисунке 3 показана репрезентативная XPS спектр осажден из паровой фазы пленки с характерными пиками на уровне ядра , указанных в верхней подрисунок. В нижних подрисунки i3D 5/2 (619,6 эВ), n1s (402,7 эВ), C1s (286.6eV), и Pb4f 7/2 (138,6 эВ) пики показаны. Все сигналы могут быть установлены с помощью одного смешанного пика гауссовской / лоренцевом, только в том случае, йода небольшая особенность при более высоких энергий связи обычно наблюдается что, однако встряска пик и, следовательно, не имеет отношения к фактической дополнительного состояния соединения. Мы можем извлечь относительный состав пленки всех подготовленных перовскита слоев путем интегрирования по интенсивности сигнала и нормализацию их соответствующими RSF 16. В некоторых фильмах, большие отклонения были найдены от идеальной стехиометрии пленки C: N: Pb: I 1: 1: 1: 3; например, приводят к азоту колебалась от 0,4 до 1,5 зве. Это особенно актуально для паровой фазы пленок, где совместное испарение трудно контролировать и воспроизводить. Для решения обработке образцов, с другой стороны, фактическое и предназначен соотношений смешивания предшественника очень хорошо согласовывались с конечной композиции пленки, как определеноот XPS.

Рисунок 3: Представитель спектры XPS. Над полным XPS сканирования отображается, ниже крупным планом XPS измерения интегральных пиков показаны. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.
Для того чтобы исследовать, как эти изменения в составе пленки влияют на плотность состояний, мы обратились к УФ-фотоэлектронной спектроскопии (UPS). Для выполнения измерения параметров ИБП, гелий газоразрядной лампы (He I в 21.22 эВ, погрешность выборки -8 V) используется с энергией пропускания 2 эВ, а энергетическое разрешение 110 мэВ (как определено по ширине края Ферми). Для всех образцов, полный спектр впервые был измерен, а затем с использованием более высокой анализатор апертуру, чтобы увеличить соотношение сигнал-шум, подробное более высокое разрешение сканирования В.Б. область была выполнена. В спектрах ИБП, в частности в области сканирования VB, спутниковые пики, возникающие в результате полихроматическом Он I излучения корректировали численно в ходе анализа данных.
На рисунке 4 приведены кривые ИБП полного набора данных всех исследованных образцов, охватывающих как взаимодействующие и последовательное испарение (светло - красный), а также различные обработки раствора (темно - красные) методы. Мы только хотим подчеркнуть , что значительные различия в энергии ионизации (IE) наблюдаются, заметные из вариаций высокой связывающей позиции энергии среза в левой графике на рисунке 4. Эти изменения вызваны изменениями в обработке и пленки состава и привести к перестройки частоты ИЭ между 5,67 и 6,4 эВ. Для более детального обсуждения, смотрите ссылку 16.
JPG "/>
Рисунок 4: UPS сканы репрезентативного подмножества исследуемых образцов. На левой панели показывают высокую энергию связи среза (HBEC) и область валентной зоны, в то время как правая часть показывает высокое разрешение крупным планом начала VB для осажденных в вакууме (светло-красные линии) и раствор обработанным (темно-красный линии) перовскитовых пленки. Все кривые были сдвинуты вдоль оси х, чтобы привести в соответствие с функцией около 3 эВ. Печатается с разрешения автора из ссылки 16. Copyright 2015 Wiley-VCH. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.
Как стало известно из наших предыдущих экспериментов, которые перовскит пленок, полученных из различных соотношений смешивания предшественников приводит к изменениям в электронной структуре, не нарушая кристаллическую структуру фильма, мы хотелиисследовать влияние соотношения предшественника на производительность солнечных батарей. Таким образом, ITO / PEDOT: солнечные батареи ПСС / перовскита / ПК 60 БМ / Al были приготовлены с использованием сорастворения обработке перовскита слоев (с добавкой и толуолом атмосфере) с использованием соотношений PbI 2 до MAI от 0,7 до 1,2. На рисунке 5 показано влияние пленки стехиометрии (предназначенный отношение R) на клеточные характеристики эффективности преобразования солнечной мощности (PCE), ток короткого замыкания (J SC), напряжение холостого хода (V OC) и коэффициент заполнения (FF). Наибольшая эффективность 9,6% обнаруживается в течение предполагаемого молярном соотношении 1,02, т.е. близко к идеальной композиции перовскита.

Рисунок 5: Характерные значения PCE, J SC, V OC и FF. Эти значения были извлечены из измерений солнечного элемента устройства Independent предполагаемого смешивания отношения R Int ПБИ 2 к MAI используется для получения пленки. Печатается с разрешения автора из ссылки 16. Copyright 2015 Wiley-VCH. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.